掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope, SEM）和透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, TEM）都是電子顯微鏡的類(lèi)型，它們的主要區(qū)別在于電子束的傳輸方式和成像方式。

SEM中的電子束通過(guò)一系列電磁透鏡被聚焦到樣品表面，樣品與電子束相互作用產(chǎn)生的信號(hào)被檢測(cè)和處理，形成圖像。SEM常用于表面形貌分析、元素分析等領(lǐng)域。

而TEM中的電子束通過(guò)樣品透過(guò)薄片，被聚焦到一個(gè)透明的熒光屏或攝像機(jī)上，樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的透射像被捕捉并形成圖像。TEM常用于觀察樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)，如晶體結(jié)構(gòu)、生物分子等。

臺(tái)式掃描電鏡

總的來(lái)說(shuō)，SEM適用于觀察大體積樣品表面形貌和表面成分分析，TEM則適用于觀察樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)和成分分析。

以上就是安徽澤攸科技有限公司小編介紹的掃描電子顯微鏡和透射電子顯微鏡的區(qū)別。更多掃描電鏡價(jià)格及信息請(qǐng)咨詢